Доклад посвящен комплексному анализу современных архитектурных решений в области создания контроллеров для испытательных стендов, а также вектору их развития под влиянием сквозных технологических трендов.

В первой части выступления представлен анализ текущего состояния отрасли: от базовых микроконтроллеров и цифровых сигнальных процессоров (DSP) до высокопроизводительных гетерогенных систем (SoC/FPGA) и магистрально-модульных платформ (PXIe, CompactRIO, AXIe). Рассматриваются критерии выбора аппаратной базы в зависимости от требований к детерминизму, параллелизму и вычислительной мощности.

Вторая часть доклада сосредоточена на перспективах эволюции систем тестирования под воздействием ключевых технологических драйверов:

• Развитие вычислительных систем: переход на многоядерные гетерогенные процессоры, обеспечивающие одновременное выполнение жесткого реального времени и тяжелой математической обработки.

• Новые интерфейсы и шины передачи данных: внедрение высокоскоростных стандартов последовательной связи для работы со сверхбольшими потоками данных без задержек.

• Беспроводные технологии: интеграция промышленных беспроводных протоколов с низким временем задержки (Ultra-Reliable Low-Latency Communication) для мобильных и распределенных испытательных узлов.

• Искусственный интеллект (ИИ) и машинное обучение: внедрение элементов Edge AI (ИИ на уровне контроллера) для предиктивной аналитики, «умной» отбраковки на лету и автоматической адаптации профилей тестирования под параметры конкретного изделия.

Трансляция семинара будет осуществляться на платформе BigBlueButton по ссылке: https://vcs-6.ict.nsc.ru/rooms/nmm-jge-zjd/join.