Информация о публикации

Просмотр записей
Инд. авторы: Кузьменко А.П., Сабуров В.С., Короленко Л.А.
Заглавие: Способ оценки состояния контакта фундаментной плиты строящегося здания с грунтовым основанием
Библ. ссылка: Кузьменко А.П., Сабуров В.С., Короленко Л.А. Способ оценки состояния контакта фундаментной плиты строящегося здания с грунтовым основанием // Патент РФ на изобретение № 2691208 от 11.06.2019 г. - Заявка № 2018129827 от 15.08.2018 г. (Федеральная служба по интеллектуальной собственности). - http://www1.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000/000/002/691/208/%D0%98%D0%97-02691208-00001/document.pdf
Внешние системы: РИНЦ: 39287509;
Реферат: rus: Изобретение относится к области контроля качества строительных работ при возведении зданий и может быть использовано для определения состояния контакта фундаментной плиты строящегося здания с грунтовым основанием. Заявлен способ оценки состояния контакта фундаментной плиты строящегося здания с грунтовым основанием, в котором в пунктах плотной сетки наблюдения определяют резонансные частоты продольных вертикальных колебаний фундаментной плиты, возбуждаемых вертикальной импульсной нагрузкой, по которым с учетом толщины плиты, модуля упругости и коэффициента Пуассона материала плиты, скорости распространения продольных волн, коэффициента пастели грунтового основания определяют зоны неполного контакта фундаментной плиты с грунтовым основанием. Технический результат - повышение достоверности определения расположения зон неполного контакта фундаментной плиты с грунтовым основанием.
Издано: 2019
Ссылка: http://www1.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000/000/002/691/208/%D0%98%D0%97-02691208-00001/document.pdf
Цитирование:
1. Капустин В.В., Кувалдин А.В. "Применение комплекса геофизических методов при исследовании фундаментных плит", Журнал "Технология сейсморазведки", номер 1, 2015, с. 99-105. Золотухин Е.П., Кузьменко А.П., Сабуров В.С., Короленко Д.Б. и др. "Сейсмометрический мониторинг технического состояния несущих строительных конструкций зданий и сооружений по динамическим характеристикам", Журнал "Вычислительная техника", том 18, 2013, с.29-36.
2. RU 2367742 C1, 20.09.2009.
3. US 20020193952 A1, 19.12.2002.
4. JP 2007132854 A, 31.05.2007.